研究队伍
沈飞，研究员，硕士生导师，研究方向为高精密外观缺陷检测技术。研发兼容面阵相机/线阵相机、普通镜头/远心镜头、单相机/多相机等三组变量自由组合下的标定模型集合和标定工具软件，开发了一系列微小缺陷的快速检测算法、无监督的图像异常检测算法。
